EF-VS410平整度檢測(cè)系統(tǒng)

一、芯片平整度檢測(cè)系統(tǒng)描述

芯片是電子產(chǎn)品中不可缺少的部件，多引腳小間距IC器件在電子產(chǎn)品生產(chǎn)過程中受到外界壓力影響，其針腳的平整度和正位度是否在精度要求內(nèi)，就需要后續(xù)的檢查修正，并且要滿足貼裝過程的實(shí)時(shí)性和高速高精度要求，因此，芯片平整度的檢測(cè)是非常重要的一個(gè)環(huán)節(jié)！

西安艾菲特光電技術(shù)有限公司基于機(jī)器視覺圖像處理技術(shù)研究開發(fā)的芯片平整度檢測(cè)系統(tǒng)是光電一體化的高精度在線檢測(cè)設(shè)備，專門用于檢測(cè)各種IC芯片針腳及其平整度（水平直線度、共面度）、間隙、針腳寬度等。系統(tǒng)簡單設(shè)定后，即可自動(dòng)識(shí)別、檢測(cè)，無須人員操作。該產(chǎn)品圖像清晰直觀，可以方便快速準(zhǔn)確的檢驗(yàn)產(chǎn)品的平面度，明顯提高工作效率和產(chǎn)品質(zhì)量！芯片平整度檢測(cè)系統(tǒng)在檢測(cè)標(biāo)定平面度時(shí)能達(dá)到0.01mm以上的精度。可根據(jù)檢測(cè)要求設(shè)定平整度誤差范圍。對(duì)不符合要求的工件檢測(cè)后輸出控制信號(hào)，可用于剔除不合格品。

芯片檢測(cè)系統(tǒng)軟件運(yùn)行界面圖如下：

二、芯片平整度檢測(cè)系統(tǒng)主要功能

檢測(cè)芯片針腳的個(gè)數(shù)；

可測(cè)量芯片針腳的多個(gè)位置的幾何尺寸，包括pitch間隔、寬度、高度等；

檢測(cè)針腳的共線度等平整度指標(biāo)；

系統(tǒng)檢測(cè)到質(zhì)量問題時(shí)，能發(fā)出報(bào)警信號(hào)，并輸出控制信號(hào)；

可對(duì)檢查出的所有廢品對(duì)應(yīng)的圖像能夠存儲(chǔ)和查看；

系統(tǒng)有自學(xué)習(xí)功能，且學(xué)習(xí)過程操作簡單；

系統(tǒng)可通過RS232接口或以太網(wǎng)接收上位機(jī)控制信號(hào)。

三、芯片平整度檢測(cè)系統(tǒng)主要技術(shù)特點(diǎn)

操作界面清晰明了，簡單易行，只需簡單設(shè)定即可自動(dòng)執(zhí)行檢測(cè)；

檢測(cè)軟件及算法完全自主開發(fā)，采用亞像素技術(shù)實(shí)現(xiàn)超高的檢測(cè)精度；

可靈活設(shè)置模板查找、平均灰度值檢測(cè)等多種檢測(cè)算法；

可選擇局部掃描功能，提高檢測(cè)速度；

專業(yè)化光源設(shè)計(jì)，成像清晰均勻，確保不形成光斑；

支持多種IC產(chǎn)品的檢測(cè)、具備產(chǎn)品在線自動(dòng)搜索等功能；

安裝簡單，不影響原生產(chǎn)線工作；結(jié)構(gòu)緊湊，易于操作、維護(hù)和擴(kuò)充；

可靠性高，運(yùn)行穩(wěn)定，適合各種現(xiàn)場運(yùn)行條件。

基于PC平臺(tái)，系統(tǒng)可擴(kuò)充性強(qiáng)，基于EF-VS機(jī)器視覺軟件平臺(tái)可擴(kuò)展管腳測(cè)量等功能，也可外接SPC軟件。

示例圖片：