新年伊始，北京中科泛華測控技術有限公司（簡稱：泛華測控）攜2010年度優(yōu)異業(yè)績和對客戶深深的感激之情，分別在北京（1月7日）和上海（1月12日）兩地舉辦了“2011年泛華測控行業(yè)技術論壇暨客戶答謝會”。會議以“多面泛華 專注測控”為主題，向客戶展示了泛華在技術、行業(yè)和業(yè)績上的突破與張力。
        會上，泛華測控副總經理高向東先生向與會來賓分享了泛華2010年的成績，并對大家的支持表示了感謝。他指出：2010年是泛華測控具有里程碑意義的一年，技術中心的成立驗證了泛華十余年奮斗的成果，也是泛華測控逐步轉型為以技術為支撐的企業(yè)的標志。他向來賓介紹技術中心的架構、人員配備和關注領域的同時，還就如何實現(xiàn)測試系統(tǒng)產品化，以及如何構建高效測試系統(tǒng)的方法與來賓做了深入探討。

        泛華測控副總經理高向東先生正在做演講

        與會同期，美國國家儀器有限公司（簡稱：NI）的工程師，以其自身對行業(yè)的認識和經驗，為現(xiàn)場帶來了題為“圖形化系統(tǒng)設計技術展望”的演講。NI的工程師以合作伙伴的角度，從軟件和硬件兩方面，闡述了圖形化系統(tǒng)設計技術的現(xiàn)狀與未來的發(fā)展趨勢。
        作為國內杰出的測控企業(yè)，泛華測控十余年來以專業(yè)的技術，貼心的服務，自由的企業(yè)文化，不斷完善和自省的態(tài)度，吸引著一批又一批的客戶。新的一年，我們將繼續(xù)秉持著以專業(yè)技術為企業(yè)立足之本的理念，為客戶及測試測量行業(yè)的發(fā)展做出貢獻。             

        更多資訊，請訪問：www.pansino.com.cn