中華人民共和國發明專利  ZL 94 1 12117.8 

中華人民共和國實用新型專利  ZL 94 1 12117.8

國家技術監督局鑒定證書  (94)技監鑒字108號

中國科學院企業標準  Q/KYA05-002-94

上海市優秀發明一等獎暨專利產品推廣實施金獎

當一束激勵X射線照射到樣品上，鍍層和基底中的元素都放射出特征熒光X射線(XRF)。鍍層熒光X射線的強度隨鍍層厚度而增加；基底熒光X射線的強度隨鍍層厚度而降低。根據這類關系，測定熒光X射線的強度,便可以計算出鍍層的厚度。普通XRF儀器的照射區域比較大,不適用于精微細小、形狀復雜的樣品。微區XRF儀器將微束X射線集中照射在很小的區域內(專利ZL 94 1 12117.8),采用激光定位技術(專利ZL 97 2 35392.5),能方便地選擇樣品上任意部位進行精確測量。

· 應用領域 ·

· 接插件插座,插頭,插銷,開關,繼電器,端子

· 連結器復式連結器,電路板連結器,電纜連結器 

· 印刷電路 膠合板,印刷電路板,金屬化孔  

· 半導體晶體管,混合電路,集成電路,陶瓷插座    

· 存儲器磁帶,磁盤,磁鼓,磁頭                 

· 裝飾件鐘表,眼鏡,制筆,珠寶首飾,工藝品     

· 機械另件 精密另件,鐘表另件,電子元件,計算機   

· 儀器特點 · 

* 非破壞性,無須接觸,準確度高,測量面積小

* 可測量單鍍層,雙鍍層,合金鍍層,合金成份

* 適合于任何形狀復雜,精致細小和復合型樣品

* 樣品沿三方向移動,激光定位精確選擇測量點

* 鍍層和基底的原子序數相差大于1即可測量

* 內置濾光片用于鍍層和基底是相鄰元素的情況

* 熒光屏和打字機同時印出當前幾次測的厚度值

科學院上海應用物理研究所凝聚其30多年從事X射線熒光(XRF)技術研究的經驗，結合其近年來在微區分析領域取得的國際領先地位，研制成功XRF系列微區鍍層測厚儀，深受用戶好評。這項研究成果的目標是在鍍層質量檢驗中，用我國高新科學技術，取代昂貴的進口儀器。該項產品已通過國家技術監督局鑒定，性能指標達中國到進口儀器的水平，它的價格只有進口儀器的幾分之一，是一種比較先進而實用的質量檢驗儀器，適合于電子元件，精密機械，鐘表眼鏡，制筆工藝，珠寶首飾等行業推廣使用。