kokusaikagaku sft-9455 熒光X射線膜厚計

具備正比計數管和半導體檢測器兩個檢測器。

X射線管電壓50 KV、X射線管電流1.5毫安和高功率。

選擇應用程序選擇畫面。

1 .定性分析：鈦更重的物質的定性分析，強度測定等進行。

第2 .測定法：用制作食譜，鍍金膜厚度和成分的自動測量、自動結果

輸出等輸出。

3 .散裝基本參數：電鍍液，合金、粉等的成分比測定基本參數法進行。

4 .散裝標準曲線：電鍍液，合金、粉等的成分比例測量標準曲線法進行。

5 .薄膜基本參數：鍍金膜厚測定基本參數法進行。

6點薄膜標準曲線：鍍金膜厚測量標準曲線法進行。

7 .維修：測量頭測試，穩定度試驗，校準標準值登記，校準值圖表顯示等

在，有。

8點數據處理：測量結果Excel等在處理時使用。

（選項設定）也有這樣的應用。

是校準用X射線的屏幕。

正比計數管分辨率是Ni 1.24 keV，錫（Sn）2.06 keV良好。

順便說一下，由于制造廠的定期檢查時的基準值Ni 1.4 keV，錫（Sn）2.3 keV以下。

X射線管的使用時間5987.9時間（2017年1月22日為止），制造商的推薦更換時間

10000小時的6成弱。

樣品畫面（標準）。

試樣畫面100% 75% 50%的50%的轉換可能。

XYZ軸全部鼠標操作。另外，用輕快的速度動作。

樣品畫面（放大1）。

樣品畫面（放大2）。

樣品畫面（擴大3）。

為一個自動對焦的激光光。

半導體探測測量的Cu光譜。α射線和Kβ可以分開測量

Au / Ni / Cu 10秒，100次的測量結果。

使用檢測器：正比計數管

科里：

管電壓：50 kV

管電流：1500μ

不過濾使用（非）

使用用途：薄膜標準曲線

平均值，標準偏差，CV值等。